噻吩在Ni(1 0 0),Cu(1 0 0)和Pd(1 0 0)表面的吸附:从头算周期密度函数研究外文翻译资料

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噻吩在Ni(1 0 0),Cu(1 0 0)和Pd(1 0 0)表面的吸附:从头算周期密度函数研究

Hideo Orita *,Naotugu Itoh

国立先进工业科技研究院材料与化学工程研究所(AIST),筑波中央5号,1-1-1东京,筑波,茨城305-8565,日本

2003年8月11日收到; 2003年12月1日以修订形式收到

摘要

我们已经通过从头密度泛函理论方法(周期性DMol3)研究了噻吩在Ni,Cu和Pd的(100)表面上的吸附。 详细研究了几种平行和垂直的吸附几何形状。 对于Ni(100),发现解离和分子吸附结构的能量差异很小。 噻吩仅以分子状态吸附在Cu(1 0 0)和Pd(1 0 0)上。 所有表面上最稳定的分子吸附结构非常相似,其中噻吩吸附在4重洞位的顶部,对称轴与金属列旋转45。 这些稳定的结构起因于噻吩分子与金属表面的良好匹配。 计算的吸附几何与XAFS实验合理一致。


关键词:硫化物; 镍; 铜; 钯; 密度泛函计算; 吸附动力学

1.引言
硫化合物,特别是芳族分子的脱硫引起技术和基础研究的相当的兴趣,因为环境法规导致燃料中硫含量降低的增加。作为反应的模型,噻吩在各种金属表面的吸附已被广泛研究[1-17]。脱硫过程的关键步骤是C-S键解离,但尚不清楚。改进理解的重要先决条件是关于表面上噻吩的初始吸附模式的知识。 X射线吸收精细结构(XAFS)光谱法定量地提供了包括S-C键长度的局部吸附结构的信息[3,5,7,10,11]。这种结构信息有助于吸附系统的理论建模。 Mittendorfer和Hafner [18]通过使用密度泛函理论(DFT)方法(维也纳从头仿真包,VASP)研究了噻吩对Ni(100)的吸附。他们发现吸附导致噻吩分子的强化学吸附和芳环的破坏。 然而,到现在为止,与其他金属表面的比较还没有进行。 Ni,Cu和Pd表面吸附性能的显著差异已经通过实验证明。 例如,噻吩的分解在Ni(100)低于100K [3,4]下容易发生,但在Cu [5]和Pd [10]上甚至超过220K也不会发生。

在本工作中,我们通过从头算的DFT方法(周期性DMol3)研究了噻吩在Ni,Cu和Pd的(100)表面上的吸附。 我们将计算结果与XAFS的结果进行了比较,发现计算的吸附几何与XAFS实验合理一致。

2.计算方法

所有的DFT计算都是使用Accelrys Inc.的Materials Studio(版本2.2)中的程序包DMol3在个人计算机上进行的。在DMol3方法[19-21]中,物理波函数在准确的数值基组上扩展。我们对金属使用具有极化函数(DNP)的双数值基组,其大小与高斯6-31G **相当。我们对金属使用密度泛函半芯赝势(DSPP s)。赝势适用于密度泛函局域轨道方法,如DMol3 [22]。采用Perdew,Burke和Ernzerhof(PBE)开发的广义梯度修正(G​​GA)泛函。使用0.002Hartree(Ha)(1 Ha = 27.2114eV)的费米宽度4Aring;的实际空间截断改善计算性能。对于数值积分,我们使用程序的MEDIUM值的网格大小。

选择(10 0)表面的含有四层厚度的板(48原子的Ni,Cu或Pd)的(3times;4)晶胞来模拟噻吩的吸附。实验确定的晶格常数用于生成(100)表面(3.524,3.615和3.891Aring;,对应Ni,Cu和Pd)。Delley报到的Ni,Cu和Pd晶格常数误差分别为0.77%,0.91%和2.07%[22]。对于CO / Pt(111)系统,Gil 等人。 [23]检查了使用实验晶格常数的效果,而不是常用的体积优化值。他们得出结论,在顶部和中空位点之间的吸附能量的差异没有显著影响。周期性地重复板坯之间的真空区域为10Aring;平板只有一个噻吩分子被吸附在板的一面(覆盖率为1/12单层(ML)),以便与覆盖率为0.1ML左右获得的XAFS的实验结果进行比较。 使用3times;2times;1 k点采样。 在所有几何优化计算中,使噻吩和两层顶层金属弛豫。 能量,梯度和位移收敛的公差分别为Ha ,Ha/Aring;,Aring;, 大多数优化结构的最大梯度小于Ha/Aring;在目前的计算条件下,游离噻吩的S-C键长度计算为1.73Aring;,与1.714Aring;的实验值符合较好[24]。

通过从吸附系统的能量中分解气相噻吩和表面的能量来计算吸附能,如等式(1)所示

Ead =E(thiophene/surface)-E(thiophene)-E(surface) (1)

在这个定义中,负的Ead对应于表面上的稳定吸附。对于Ni,无自旋极化计算显著高估了吸附能的值[25]。因此,我们进行如下计算。首先,在无自旋极化计算中进行几何优化。其次,对于从非自旋极化计算得到的优化几何结构,在自旋极化计算中对能量进行了校正。对一些结构检查了几何优化过程中忽略自旋极化的误差,在 0.03 eV和0.02 Aring;以内,分别对应吸附能和距离。图1显示了平行于(100)表面的几个高对称的起始吸附几何。几何形状根据质心的位置和噻吩分子的方位角进行分类。例如,hol45表示噻吩以对称轴从金属列的方向旋转45°的重中空的顶部位置吸附。还研究了具有平行于金属行的分子平面的一些垂直吸附几何形状(顶部,bri和hol几何形状分别表示其硫原子位于顶部,桥和4重中空位置处的起始结构)。

图1. 噻吩在(100)表面上的六种高对称起始吸附几何形状的示意图,根据质心的位置和分子从金属行的方向的方位角分类。 例如,hol45表示噻吩以对称轴从金属行的方向旋转45°的4重中空的顶部位置吸收

3.结果与讨论
3.1.噻吩对Ni(1 0 0)的吸附能和结构
已经用各种表面科学技术,如XAFS光谱[3,5],X射线光电子能谱(XPS)[5],高分辨率电子能量损失光谱 (HREELS)[4] 和程序升温脱附法(TPD)[4] 来检测噻吩在Ni(1 0 0) 上的吸附。 在低至43 K的温度下,噻吩通过电子与表面的相互作用平行吸附[5]。 当温度升高时,噻吩即使在90-100 K也很容易解离[3,4]。 然而,在该表面上没有发现有序的噻吩上层结构。

吸附在Ni(100)上的噻吩的吸附能和结构列于表1(圆括号中的吸附能在非自旋极化计算中获得,并且它们大于自旋极化计算中的能量)图2显示了噻吩在Ni(100)上典型的优化结构。最稳定的吸附结构是bri45几何的离解吸附(Ead = - 2.88eV)。硫原子停留在桥接点附近,Ni-S距离为2.14和2.19Aring; .S-C距离变长到1.82和2.94 Aring;.一个S-C键解离,碳原子移动到邻近的桥梁站点。第二个稳定的吸附几何是hol45几何的分子吸附(Ead = 2.46 eV)。噻吩环的分子平面略有变形,但平行于表面。 S-C键长度延伸到1.84Aring;。C-H键明显偏离表面。高吸附能量源自噻吩分子与Ni表面的良好匹配。硫原子与其Ni邻位之间的距离为2.16 Aring;. bri45的结构和hol45几何与Mittendorfer和Hafner先前报道的(桥B和空心B位置[18])非常相似。本研究中吸附几何的相对能量排序与[18]中的吸附几何相似,但吸附能的绝对值略大于其吸附能。这个差异可能来自于几种不同的计算过程(基组(原子轨道相对平面波),单元格尺寸(3times;4对c(4times;4)),层数(4层,2层弛豫对 5层1层弛豫),泛函(PBE 相对 PW91)等)。

表1 噻吩在Ni(1 0 0)上的吸附能和结构

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Ead/eV (no spin)

d(Ni–S)/A

d(S–C)/A

hol0

-2.23 (-2.52)

0.65

2.26

1.89

hol45

-2.46 (-2.80)

0.42

2.16, 2.94

1.84

bri0

Not stable: move to hol45

bri45

-2.88 (-3.26)

0

2.14, 2.19

1.82, 2.94

Dissociated

top0

-1.77 (-2.12)

1.11

2.23, 2.25

1.92

top45

Not stable: move to hol45

atop

-0.76 (-0.83)

2.12

2.11

1.73

bri

Not stable: move to hol0

hol

-0.69 (-0.85)

2.19

2.33, 2.33

1.80

2.70, 2.76

Free thiophene

1.73

XAFS [5]

2.20

1.80

图2. 噻吩在Ni上的典型优化吸附结构(1 0 0)

Imanishi等[5]通过S K边XAFS研究了Ni(1 0 0)(0.10 ML)上亚单层噻吩的表面结构。在噻吩的吸附和随后的光谱测量中,为了避免分解,Ni(100)表面的温度保持恒定在足够低的温度(43K)。他们报道,在43 K噻吩平行于表面进行分子式吸附,硫原子位于桥位,d(Ni-S)= 2.20plusmn;0.03 Aring;,d(SC)= 1.80plusmn;0.05 Aring; hol0几何(d(Ni-S)= 2.26 Aring;)与XAFS确定的硫原子位置相同,但S-C距离(1.89 Aring;)稍长。 hol45与hol0几何之间吸附能的差异仅为0.2 eV。由于优化的结构基本上是零温度的结构,吸附的噻吩可以在较高的温度下围绕4重空位旋转,这可能是我们的计算和XAFS测量之间的差异的可能原因之一。在两种或更多种可能的吸附结构的存在下,在XAFS分析中存在一些困难,如Kokalj等人的N2O / Pd(110)所指出的。 [26]。为了在低至43 K [5]的温度下进行吸附,噻吩可能被捕获在亚稳态位置,如hol45和hol0几何形状。当吸附温度升高时,解离发生在90-100 K [3,4]。要通过实验确定离解边界是多少,有必要通过逐步改变吸附温度来测量发生多少离解。理论上,需要一个精确的过渡状态搜索,它不仅是一项艰巨的任务,而且在计算上也是非常昂贵的。因此,目前很难获得解离边界的值,但这个边界值应该很小,因为解离已经在90-100K被观察到了。top0几何不稳定(-1.77 eV)。 噻吩环显著弯曲,硫原子停留在桥位。 Ni-S距离为2.23和2.25Aring; .S-C距离延伸到1.92Aring;。垂直吸附几何形状比平行吸附几何形状稳定性差很多。 噻吩环保持平整行,下C-H键不会倾斜。

3.2. 噻吩对Cu(100)的吸附能和结构
Sexton [6]通过EELS和TPD研究了噻吩在Cu(100)上的性质,并报道了噻吩在平行于表面的平面上分子吸附,在150-240 K时解离而不解离。Imanishi 等人[5]通过S K边XAFS研究了亚单层噻吩在Cu(1 0 0)(0.07 ML,220 K吸附,92 K测量)下的表面结构。 他们已经报道,噻吩在分子面

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